本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

三元正极材料前驱体的制备很大程度上决定了锂离子正极材料的形貌与结构，并进而影响电池电化学性能。本文使用岛津X射线衍射仪测试了三元正极材料的前驱体样品(Ni,Co,Mn)(OH)2，并进行了物相解析， 结果表明该样品产物为单一相的β-Ni(OH)2层状结构，对得到的数据完成了Rietveld精修，拟合结果良好，Rwp=8.3%。通过Rietveld精修直接获得准确的晶格常数等物理量，并且该材料的晶粒尺寸显示各向异性。类似的步骤可以拓展用于锂电池正极材料的研发和质量控制工作。

本文应用岛津台式基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪MALDI-8020，在线性正离子模式下，以CHCA（α-氰基-4-羟基肉桂酸）为基质，分析花生过敏原蛋白质Ara h 2的酶解产物，得到了精确的分子量分布信息。将酶解产物的PMF（肽指纹图谱）检索Mascot数据库，成功匹配到理论蛋白质信息。