本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

对案件中涉及的纸张进行检验和鉴定，区分纸张的种类、品牌、批次，可为案件侦破提供线索，也可为证实犯罪提供科学依据。应用X射线荧光光谱法分析纸张中常量和微量元素，可以对纸张进行精确的比对和鉴别。本文参考《GA-T 1654-2019法庭科学 纸张元素成分检验 波长色散X射线荧光光谱法》标准，使用岛津XRF-1800分析了几种纸张，给出了样品中元素种类，通过谱图叠加完成纸张的对比，并使用基本参数法进行了半定量分析，展示了WDXRF在纸张物证鉴定中的应用。

轴承部件需具有耐磨、耐蚀、一定温度区间的热化学稳定性以及优良的润滑特性。某铝合金轴瓦经过表面涂层处理后，具有良好的无油自润滑性能，本文借助岛津仪器电子探针显微分析仪器EPMA、能量色散X射线荧光光谱仪EDX和傅里叶变换红外光谱仪FTIR，分析其基体和涂层信息，推断了其实现方案。