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使用inspeXio™ SMX™-225CT FPD HR Plus观察晶体振荡器的事例
使用inspeXio™ SMX™-225CT FPD HR Plus观察晶体振荡器的事例
随着电子技术的飞速发展,对安装在产品中的电子零部件提出了小型化和更高功能性的要求。其中,“晶体单元”和“晶体振荡器”之类的晶体元器件对产品的精确动作来说是不可或缺的。本文介绍了使用微焦X射线CT系统inspeXio™ SMX™-225CT FPD HR Plus(图1)对晶体振荡器的内部结构进行观察的事例。
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