本文介绍了一个运用SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视及CT对碳化硅MOSFET的实例观察。针对碳化硅MOSFET进行透视，观察发现内部碳化硅晶片和铜基体的焊料部分有白色气泡。侧立时发现是使用铝线和碳化硅晶片进行连接。针对透视图中碳化硅晶片焊接部分使用CT扫描，能够清晰观察出内部气泡，并进行测量。

本文参考国家药典委员会发布的《银杏酮酯国家药品标准公示稿-第二次》中的总银杏酸检查相关方法，利用岛津LCMS-8045三重四极杆液质联用仪对银杏酮酯样品中的总银杏酸进行了测定。测定结果显示：白果新酸、银杏酸C15:1和银杏酸C17:1在0~200 ng/mL浓度范围内各组分线性关系良好，相关系数均达到0.999以上，准确度范围在88.9%~102.2%之间；在最高线性点后对空白样品进行分析，3种成分均未发现明显残留；以10 ng/mL和50 ng/mL的对照品溶液连续进样6次，保留时间和峰面积RSD分别在0.30%~0.43%和0.53%~1.53%之间，准确度范围为105.8%~112.5%

本文使用岛津电感耦合等离子体质谱仪ICPMS-2050LF建立了测定碳酸镧中29种元素杂质含量的方法。实验结果表明，该方法标准曲线线性良好，检出限低，准确度高，重复性好，适用于碳酸镧中元素杂质含量的测定。