在常规XPS分析中，不同的聚合物材料可能会出现测试得到的C 1s谱图相似，较难区分。等离子特征峰（如π-π*跃迁）虽然可提供与材料中的sp2碳杂化相关的信息，但也可能会被其他化学态的碳物种掩盖。本文采用AXIS SUPRA+仪器的X射线光电子能谱（XPS）、紫外光电子能谱（UPS）及反射电子能量损失谱（REELs）联用技术对不同聚合物材料进行了分析。