电极材料的组分和结构很大程度上决定了铅酸蓄电池的性能。本文使用岛津X射线衍射仪测试了铅酸蓄电池电极材料制造过程各工艺环节的样品，进行了物相解析并使用K值法粗略分析了各物相的含量。从物相解析结果中可以看到各工艺环节中Pb元素赋存状态的演变。了解Pb元素赋存状态以及物相相对含量的变化，对于改善铅酸蓄电池的制造工艺，开发满足不同行业需要的蓄电池，有着重要的意义。类似的步骤可以拓展用于铅酸蓄电池电极材料的研发和质量控制工作。

本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线透视及CT 对智能手机的实例观察。通过透视可以观察整个智能手机的全景图，再针对相机、USB 端口和BGA 放大透视观察。再对BGA 进行CT 扫描，可以观察BGA 的内部气泡、PCB 基板与BGA焊接面的结构，运用设备自带测量功能对BGA CT 截面进行气泡测量并判断气泡OK/NG、真圆度和直径。最后对BGA 进行缺陷分析并展示半透明效果图。

ATR法不仅用于验证分析，还广泛用于异物分析。对ATR法扫描获取的光谱和用透射法扫描获取的光谱进行比较可以发现，因为原理不同，纵轴及横轴的数值有一定差别。所以，将ATR法的光谱与透射法的光谱或数据库进行比较时，通过对ATR光谱进行适当的校正，可取得更高精度的结果。本文向您介绍通过高级ATR校正，对ATR光谱和透射光谱进行近似处理的示例。经高级ATR校正可使ATR光谱与透射光谱相似。