熔融制样X射线荧光光谱（XRF）法具有可测元素范围广、浓度范围宽，同时具有快速、准确、操作简单等特点，已广泛应用于多个行业的分析领域。本文以市售钾长石、钠长石等标样，建立了熔融制样XRF分析长石中SiO2、Al2O3、K2O、Na2O和Fe2O3 等主次成分的分析方法，并验证了该方法的稳定性。

本文使用岛津LC-15C 高效液相色谱仪，建立了饮料中阿斯巴甜含量测定的方法。本方法采用C18色谱柱进行分离，紫外检测器进行检测。阿斯巴甜在2~200 μg/mL的浓度范围内具有良好的线性相关性，相关系数为0.9999。对阿斯巴甜浓度为2 μg/mL、50 μg/mL、200 μg/mL的标准品进行六次平行分析，重复性结果（RSD%表示）阿斯巴甜在三个不同浓度下的保留时间RSD% 范围为0.04%~0.11%，峰面积RSD%范围为0.34%~3.21%，仪器精密度良好。实际样品加标浓度10 mg/kg 和100 mg/kg，回收率范围为85.5%~113.1%，方法检出

半导体企业生产制造过程是一个高水耗过程，且纯水水质对产品品质有至关重要的影响。为确保出水水质符合要求，制备超纯水时需对重要环节的进出水进行监测，监测指标包含总有机碳(TOC)、导电度或水阻值等。通过实时监测掌握水质变化情况，尽早发现问题并采取措施，保证生产用水的品质需求。半导体企业生产废水由有机废水、含氟废水、研磨废水、酸碱废水等混合而成，水污染物包含悬浮物、有机污染物、氨氮等，成分复杂，主要监测指标为COD/TOC、氨氮、铜、PH等。此外，半导体企业生产过程中还会排放有机废气、酸性废气、碱性废气等，包含大量挥发性有机物(VOCs)。VOCs作为我国大气污染防治联防联控的重要污染物，需对进行监