为了各种目的，如防止变质，掩盖不愉快的味道或气味，或控制药物释放的时间等等，有些药品片剂表面有一层涂层。图1显示了药片涂层的示例。虽然电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)和电感耦合等离子体-质谱法(ICP-MS)通常用于分析药品中的元素，但如果整个片剂被粉碎或溶解，就很难区分是来自于涂层的元素还是其他。x射线荧光使片剂在不粉碎的情况下分析成为可能。本文通过对粉状和非粉状片剂的分析比较，介绍了一种简单分析涂料中不均匀分布的方法。