X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

本文介绍了一种利用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱（MALDI-TOF）对有机牛奶进行认证并确定其产地的方法。对牛奶中的脂质和多肽成分进行质谱采集，通过多元统计分析确定了区分有机和传统牛奶以及不同产地牛奶的关键脂质和多肽，8种脂质和6种多肽在有机牛奶中含量较高，4种脂质和10种多肽在不同产地的有机牛奶中含量差异显著。将脂质-多肽联合数据集与机器学习模型相结合，显著提高了分类准确率，优于基于单一数据集的模型。该方法展示了将MALDI-TOF与机器学习相结合用于牛奶真实性认证以防止乳制品欺诈的潜在应用价值。

近年来，在电子工业中，随着电子部件的小型化和无铅焊料的普及，焊接技术变得越来越重要。本次结合使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对通过无铅焊料（Sn-3.0Ag-0.5Cu）封装的印刷电路板焊接部分进行分析的示例，为您介绍FE-EPMA所独有的高分辨率X射线图像以及改变加速电压时的微粒子分布差异情况。