物质吸收光发光时，伴随有电子状态的变化。吸收是电子从基态向激发态跃迁，发光则相反，是从激发态向基态跃迁。各电子状态具有振动能级，并且各振动能级还存在旋转能级。在常温下，物质的基态电子分布着一些振动和旋转能级，当基态电子向激发态跃迁时，会伴随着振动和旋转能级跃迁，因此获得宽的光谱。振动、旋转能级的分布受周围热的影响，将物质冷却后，分布在高级次的振动、旋转能级受到抑制，因此，光谱变尖锐，能得到在常温下无法观测到的峰值。本次使用紫外可见分光光度计以及荧光分光光度计，结合优尼索库公司制造的CoolSpeK 附件，对低温状态下进行液体测定的事例进行介绍。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

应用岛津多维气质联用仪（MDGCMS-QP2010 Plus）建立了烷基苯及二甲苯化工合成产品的分析方法，并结合化工合成领域分析要求及多维气质联用仪的特点，简单阐述了多维气质联用技术在有机化工合成领域中的应用。