扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscopy，SPM），其原理是利用一个细微的探针在样品表面扫描的同时，检测探针与样品之间相互作用的物理量，从而表征材料表面的形貌、粗糙度、电流电势分布及磁畴分布等。SPM在一定测试环境下，可以准确测量样品表面纳米级及以下的起伏。本文对放置在不同位置的具有相同配置的SPM-9700HT进行对比测试，证实了环境因素的确会对SPM-9700HT的测试产生一定的影响。

参考《全国土壤污染状况详查土壤样品分测试方法技术规定》，使用岛津微量进样-ICPMS时间分辨测量（TRM）模式测定了土壤和沉积物中的砷、镉、铬、铜、镍、铅和锌等重金属元素。结果表明，各元素方法检出限为5.66~357 μg/kg；微量进样和常规蠕动泵连续进样结果无显著性差异、与标准值一致；并通过连续测定验证方法稳定性，稳定性结果相对标准偏差（RSD）为1.91~3.53%。该方法进样量少，对等离子体和锥口积盐等变化影响小，降低仪器维护周期，可高通量的快速测定高基质土壤和沉积物中重金属元素。

镨钕合金样品经酸消解后直接用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定其中镧、铈、钐、钇等多种杂质元素含量。本文在优化仪器的工作条件下，通过基体匹配，有效消除了基体干扰的影响。方法简便、快速，可满足工业分析要求。回收率在97.0%-103.0%%范围内，相对标准偏差