本文描述了通过使用具有高耐腐蚀性的Nexera XS inert、pH值监测器（pHM-40）和LabSolutions MD（支持方法开发的专用软件），为mAb分子大小变异体测定提供足够的分离能力和耐用性的高效方法优化示例。

本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察BGA芯片内部结构。使用VG软件虚拟出三维立体图，可观察绑定线断线。通过CT截面可观察芯片破损、锡球变形、锡球破损及锡球气泡等缺陷。使用VG软件缺陷模块计算BGA锡球中的气泡率，呈现气泡分布立体效果图。

本文使用岛津电感耦合等离子体质谱仪ICPMS-2050LF建立了测定碳酸镧中29种元素杂质含量的方法。实验结果表明，该方法标准曲线线性良好，检出限低，准确度高，重复性好，适用于碳酸镧中元素杂质含量的测定。