本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

本研究使用岛津GCMS-QP2020 NX气相色谱质谱联用仪，建立了NCI负化学电离源测定土壤样品MCCPs的方法。土壤样品经过提取、净化后仪器分析。采用多类型MCCPs标准品以氯含量-总响应因子作图，线性拟合回归系数良好(R2>0.95)。考察土壤实际样品，样品中C14和C15是主要的组分，分别占到总SCCPs的67%和27%。本方法可以考察MCCPs的浓度和同族体分布，为研究MCCPs的污染来源，迁移转化等提供技术支持。

本文利用电感耦合等离子体质谱仪（ICPMS-2030）与岛津惰性液相系统LC-20Ai联用，测定了蚯蚓体内三价铬和六价铬的含量。实验结果表明：各形态铬的相关系数 r＞0.9998，三价铬和六价铬的加标回收率在99~106%之间。使用岛津的惰性液相系统与岛津ICPMS-2030联用可以方便准确的测定土壤中生物样本中的不同形态铬的含量。