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单次反射ATR法测定高分子薄膜
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单次反射ATR法测定高分子薄膜
2017.08.29
类型: 应用报告
浏览:171
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衰减全反射(ATR)是傅立叶变换红外光谱外仪中应用最为广泛的附件,尤其是测定高分子材料领域的样品时,更显出独特的应用价值。本文以实际样品测定为例,介绍了使用单次反射ATR附件分析高分子多层膜及薄膜表面涂层的方法。
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