近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

本文介绍了参考《GB/T 43091-2023 粉末抗压强度测试方法》测试标准，使用配有侧向观察记录试验过程装置的岛津MCT-211微小压缩试验机，对导电镀镍聚合物微球进行抗压强度测试。试验结果表明，MCT-211微小压缩试验机以其载荷高精确度、运行高稳定性可以对微米级导电镀镍聚合物微球进行抗压强度评价，具有丰富功能的分析软件可以清晰直观查看对比不同数据点的特性。

本文参考YY/T 1453-2016《组织工程医疗器械产品Ⅰ型胶原蛋白表征方法》的相关条件和要求，采用岛津氨基酸分析仪LC-16AAA建立了一种自动柱后衍生高效液相色谱法测定胶原蛋白中羟脯氨酸含量的分析方法。实验结果表明：羟脯氨酸在5~100 µg/mL浓度范围内，线性相关系数大于0.999，准确度在98.9~101.2%之间。精密度实验中，10 µg/mL 标准溶液保留时间RSD%值为0.15%，峰面积RSD%值为0.77% 。该方法中茚三酮柱后衍生和样品测定为全自动完成，线性佳，分离效果好，可为胶原蛋白中羟脯氨酸的测定提供参考。