使用岛津MXF-N3 Plus 波长色散型X射线荧光光谱法对硅质耐火材料进行了定量分析，并进行了检出限、重复性、精确度试验，建立了一种方便快捷的硅质耐火材料荧光定量分析方法。

近年来，高分子材料的功能特性取得了显著进展，现在需要能够定量评估其纳米结构和弹性模量的技术。目前使用扫描探针显微镜［SPM （AFM）］可以对其进行评估，使用岛津SPM-Nanoa的高速物理性质成像可以快速完成样品的力学性质的测定。本文介绍使用SPM-Nanoa和纳米物理性质评估软件“Nano 3D Mapping™Fast”通过快速物理性质成像，对聚乙烯 (PE) 的弹性模量和粘附力分布进行快速和高分辨率可视化的示例。

本文介绍了岛津AGS-X电子万能试验机，遵循《GB/T 6569-2006 精细陶瓷弯曲强度试验》、《GB/T 10700-2006 精细陶瓷弹性模量试验方法弯曲法》、《ASTM C1161-2013室温下高级陶瓷抗弯强度标准试验方法》标准，测定精细陶瓷弯曲强度。本试验适用于精细陶瓷实施质量控制、产品性能调整等方面的应用。