XPS（X射线光电子能谱分析：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种除能够对物质表面约10nm处存在的元素进行定性/定量分析外，还能够分析化学键状态的表面分析方法。物质的化学键状态是决定材料特性的重要因素，XPS被广泛运用于表面改性的分析、树脂劣化试验的评估，以及电子部件的故障分析等情况。为进行高准确度的化学键状态分析，需要具有高能量分辨率的谱图。本文将为大家介绍使用具有能量分辨率的KRATOS ULTRA2TM 测定的有机物的实例。

1)采用岛津农残MRM数据库简单、快速建立242种农药采集方法文件。 2)采用MRM采集方式，有效去除水果中的基质干扰，提高检测灵敏度。

建立了测定低合金钢特殊小样品中多元素的PDA直读光谱分析方法。通过对比试验，确定了氩气冲洗时间及氩气流量、激发光源选择、激发能量电压等各项分析条件，试验结果表明：该方法的准确度、精密度都能够达到预期效果，完全能够满足生产分析要求。