抗体药物主要通过培养CHO细胞产生。近年来有报告指出，培养基中的细胞代谢及抗体一级结构的形成受到培养基溶液中金属元素浓度变化的影响。例如，CHO细胞中乳酸代谢的途径根据培养液中的Cu浓度而不同1) ，与IgG抗体结合的糖链结构根据培养基中的Mn/Zn比而不同2)。因此，为保证抗体药物质量的稳定，监测培养液中金属元素的浓度随时间的变化显得尤为重要。在前序研究中，我们展示了对无细胞预培养基中的金属元素采用稀释-原子吸收法进行了检测3）。在本文中已验证，该方法可用于分析细胞培养过程中随着时间变化采集的培养基（培养上清）中的金属元素含量变化。

参考国家标准《GBT 6730.62-2005 铁矿石 钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》和商检系统标准《SNT 0832-1999进出口铁矿中铁、硅、钙、 锰、铝、钛、镁和磷的测定 波长色散X射线荧光光谱法》，利用岛津MXF-2400波长色散X射线荧光光谱仪，使用混合熔剂与水泥用铁质原料高温熔融成玻璃片样品，建立水泥用铁质原料常规元素的分析方法，并评价了该方法的短期精度和准确度；用此方法分析水泥用铁质原料样品，简便快速，准确度高、精度高，能满足水泥用铁质原料样品日常检测的需要。

本文探索了在存在复杂双电荷离子干扰时，如何利用岛津ICPMS-2030软件元素间校正（IEC）功能快速实现干扰校正，获得准确的测定结果。实验表明，在存在多个元素的双电荷离子同时对砷存在干扰时，岛津软件自带的元素间校正（IEC）功能可以实现准确的干扰去除，获得满意的测定结果。