本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

六方结构的石墨作为负极材料中的活性物质，在锂离子电池中有着广泛的应用。石墨为六方层状结构，在极片制备过程中，容易产生择优取向，而取向程度会直接影响锂离子的扩散速率及极片的振实密度。石墨层状结构的取向比（OI）可通过石墨（004）衍射峰与（110）衍射峰的强度比进行快速表征。本文使用岛津XRD对某石墨极片进行了测试，并采用峰强度比I(004)/I(110)计算得到该石墨极片样品取向比OI为2.36，测试结果可为石墨负极极片工艺控制及优化提供科学可靠的指导。

建立了高效液相色谱测定柴油中芳烃含量的方法。选择氨基柱做色谱柱，正庚烷为流动相，辅以反冲技术将样品分离成非芳烃、单环芳烃、双环芳烃和三环+芳烃等组分，采用示差折光检测器进行定性和定量分析。结果表明，不同烃类化合物的保留时间和峰面积相对标准偏差分别在0.05% ~ 0.08%和0.12% ~ 0.71%之间，仪器精密度良好。以邻二甲苯、1-甲基萘和菲作为不同芳烃的标准物质，所得校准曲线的相关系数在0.9999以上。该方法已成功应用于柴油样品中芳烃含量的测定，能够很好的满足柴油芳烃的检测要求。