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能量色散型X射线荧光光谱仪分析离型膜中含硅离型剂涂布量
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能量色散型X射线荧光光谱仪分析离型膜中含硅离型剂涂布量
2021.06.18
类型: 应用报告
浏览:160
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离型膜表面涂布的离型剂,可以有效降低离型膜的剥离力。离型膜中离型剂的涂布量,影响到离型膜的离型效果、生产成本、涂布质量等。能量色散型X射线荧光光谱仪,通过分析离型膜表面涂布的含硅离型剂中的硅的强度,计算得到含硅离型剂涂布量与硅测试强度的曲线,可用于离型膜表面离型剂涂布量的分析。该分析方法具有分析灵敏度高,分析数据稳定,分析准确度好的优点,分析过程无损快速,分析样品无需特别处理,适用于生产质量控制分析。
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