参考《GB/T 23113 荧光灯汞含量的测定方法》标准，采用电感耦合等离子体发射光谱法测定了双端型荧光灯中的汞含量。实验结果表明，该方法线性范围宽，线性相关系数>0.99990，精密度高，RSD

二氧化硅薄膜具有良好的硬度、光学、介电性质及耐磨、抗侵蚀等特性，在光学、微电子等领域有着广泛的应用前景，是目前国际上广泛关注的功能材料。本文采用岛津扫描探针显微镜（SPM）技术对二氧化硅薄膜样品的表面形貌以及粗糙度进行了表征，对二氧化硅薄膜的制备方法和制备工艺优化提供了一定的指导。

太阳能电池器件中各个纳米涂层的形貌及厚度对于光电转换效率起着至关重要的作用，本文采用XPS与SPM技术联用进行有机涂层结构表征和元素种类及各个元素价态检测。