原料或者产品中出现的不明成分称为异物，异物产生原因比较复杂，可能是无机物，也有可能是有机物。通常异物样品会比较小，并且对产品可能有决定性的破坏影响，因此查找异物来源，保障产品质量是非常重要的质保环节。本文使用岛津红外显微镜AIM-9000和能量色散型X射线荧光分析仪EDX-8100对某企业树脂原料中产生的不明异物进行了有机和无机成分分析，对于异物来源鉴定提供数据支撑。

在5G电子和新能源领域，铜箔是重要的基础材料之一。本文使用岛津电子探针EPMA分析了电子元器件用电解铜箔表面微小缺陷，测试到腐蚀性元素S、氧化腐蚀产物O及微量元素Al，微观形貌显示有点腐蚀特征。结果显示，岛津电子探针在微量元素解析和超轻元素测试的灵敏度方面有着独特的优势。

本文采用超声提取方式，结合岛津最新型号的气质联用仪GCMS-QP2050，建立了光学TAC薄膜样品中9种增塑剂含量的检测方法。在0.2~5 mg/L浓度范围内，各化合物线性良好；混合标准溶液连续6次进样，峰面积RSD值均小于5%，重复性良好；样品加标测试，回收率达到80%~120%。方法满足实验室对薄膜样品中增塑剂含量测定的要求。本文数据处理部分还采用了岛津PeakintelligenceTM智能积分软件，提高积分准确性。