X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测

本文建立使用岛津超高效液相色谱仪LC-30A和三重四极杆质谱仪LCMS-8050联用技术测定水中7种环境雌激素方法。通过使用杂质延迟法，消除双酚A和壬基酚的系统残留对检测的影响，从而提高环境雌激素中双酚A和壬基酚的检测灵敏度。其中7种环境雌激素的线性良好，相关系数均大于0.999，定量限为0.16 μg/L~0.48 μg/L之间。仪器重复性良好，不同浓度标准溶液连续进样6次，保留时间和峰面积相对标准偏差分别在0.15%和4.90%以下，空白基质加标回收率在83.5%~109%之间。

参考GB/T 6901-2017《硅质耐火材料化学分析方法》及GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》，使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）分析了碳化硅中多种元素氧化物的含量。分析结果显示，该方法各元素检出限为0.005~27.125 mg/kg；相对标准偏差（RSD）0.13%~2.61%，重复性良好，样品加标回收率为90.6%~106%，该方法适用于碳化硅中的氧化物含量测定。