为了增加光学元件的通光量，通常会在其表面镀上一层或多层折射率较低的薄膜，以消除元件表面的反射光，所镀的膜叫增透膜或减反膜。该类光学元件要求具有很低的反射率，对于测量仪器的测量精度要求非常高。本文使用UV3600对该类样品进行测试，实验结果表明，使用岛津UV3600可以快速有效测定该类样品的超低反射率，并且可以获得满意的实验结果。

短链氯化石蜡（SCCPs）是近年来环境科学与分析化学的热点之一，因其结构复杂性决定了建立分析方法极具挑战性。本研究使用岛津GCMS-QP2020 NX，建立了NCI负化学源测定土壤样品SCCPs的方法。通过多类型标准品，使用“氯含量-总响应因子”作校准曲线，线性拟合回归系数良好(R2>0.87)。考察土壤实际样品，样品中C10和C11是主要的组分，分别占到总SCCPs的66.4%和21.7%。该方法是目前学术界测定SCCPs的经典方法之一，在测定SCCPs浓度的同时，亦可考察SCCPs的同族体分布，为研究SCCPs的污染来源，迁移转化等提供技术支持。

铟（In）在高科技领域中应用非常广泛，是重要的战略性资源。铟通常赋存于富锡矿床中，贫锡矿床中鲜有报道。中南大学团队在华南七宝山铜锌铅矿床中发现了一处富铟贫锡矽卡岩矿产资源，为贫锡环境中铟的成矿作用研究提供了一个范例。测试结果表明，铟在闪锌矿-黄铁矿中最为丰富，含量最高可达0.1%，铟主要赋存于闪锌矿中，铟与锌存在强相关性，但与锡的相关性较弱。矿物共生关系表明，七宝山矿床中闪锌矿形成于晚石英硫化物成矿阶段，而富铟矿体是由贫锡火成岩侵入体浅部侵位所形成。