本文建立了使用岛津三重四极杆液质联用仪测定食品接触材料中17种全氟化合物的分析方法。方法学参数表明，在线性范围内17种全氟化合物相关性良好，精密度实验中保留时间和峰面积的RSD分别在0.04%~0.51%和0.27%~12.83%之间，该方法简便、快速、准确，可用于食品接触材料中全氟化合物的准确定量检测。

本文参考国家标准《GB/T 28021-2011饰品 有害元素的测定 光谱法》、，采用ICPE-9820测定了铂饰品国家标准物质中常量元素。实验结果表明，该方法样品检测结果RSD值

X射线光电子能谱（XPS）是一种在距离对样品表面约10 nm的深度范围内，进行元素定性、定量以及分析化学结合状态的表面分析方法。XPS是一种有效的材料表面分析方法，广泛应用于半导体和电池材料等材料的研发领域。另一方面，由于XPS无法检测出氢，因此需要分析表面上的羟基时，仅使用XPS可能难以完成评价。例如，表面的羟基对硅晶圆镜面之间的键合会产生很大影响1)。由于XPS难以明确判别硅的氧化物和氢氧化物，因此同时使用其他科可评价氢含量的表面分析方法，从多角度评价样品可以说是很重要的。 反射式电子能量损失谱（REELS）作为一种可分析化学状态和电子结构的表面分析方法而备受瞩目。其可以实现XPS难以检测