在食品原料中所含矿物成分及盐分的元素分析中，一般采用原子吸收分光光度法（以下简称AA）。在使用AA分析固形物和粉末时，需要加酸进行消解等化学预处理。与之相比，荧光X射线分析法只通过简单的预处理就可以完成固体､粉体､液体的直接测定，因而正在研究将其作为AA的替代方法使用。AA常用于对食品原料粉末中的钠含量的过程控制。我们使用能量色散型X射线荧光分析仪EDX-8100对该项分析进行了比较研究。使用压片法压片法和粉末直接分析法（以下简称粉末法）这两种前处理方法，其分析结果与AA结果之间均得到了良好的相关性。

将高炉渣样品用荧光分析专用压片机按一定条件制备成荧光分析用试样片，用EDX-7200测定各元素荧光强度，以化学方法准确定值的生产工艺相近的样品为校准样，用荧光强度与元素含量的对应关系建立校准曲线，各元素校准曲线线性良好。参考冶金行业标准YB/T 6012—2022《高炉渣多元素含量的测定 X-射线荧光光谱法（粉末压片法）》对方法的精密度进行了考察，结果良好。采用化学分析结果对方法的准确度进行了验证，偏差在可接受范围之内。

"在药物的质量管理中，次品的产生原因分析是一项十分重要的工作。虽然异物和污染物的大小和形状不同，分析方法也存在差异，但在分析药物片剂的缺陷部位时多会用到红外显微镜。本文使用自动缺陷分析系统AIM-9000对药物片剂表面的异物进行了定性分析，以下将为大家进行介绍。"