近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

依据GB 31658.22-2022《食品安全国家标准 动物性食品中β-受体激动剂残留量的测定 液相色谱-串联质谱法》，建立了使用岛津三重四极杆液质联用技术测定动物性食品中β-受体激动剂残留量的方法。采用内标法建立校准曲线，在0.5~50 μg/L浓度范围内线性关系良好，相关系数大于0.99。在0.5、5、50 μg/L三个浓度下，各化合物的保留时间和峰面积的RSD%分别在0.08~0.26%和0.67~7.35%之间，仪器精密度良好。对空白猪肉样品进行了0.5、1、5 μg/kg三个浓度水平的加标回收实验，回收率在83.2%~110之间。该方法灵敏度高，

本文介绍了TOC-LCPH测定电镀液中的总有机碳，利用仪器的自动稀释功能直接测定样品，无需手动稀释，实验结果表明，该方法简便、迅速、可靠，完全满足电镀过程中对有机物的质控要求。