本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

本文建立了自动前处理-超高效液相色谱/质谱在线分析系统用于血清中十种抗精神病药的直接检测方法。在最优条件下不同浓度的精密度实验得到的保留时间和峰面积相对标准偏差分别在0.01~0.06%和1.12 ~ 4.54%之间；方法检出限和方法定量限分别介于0.000801~0.688 μg/L和0.00321~2.75 μg/L之间。对两种浓度级别加标血清样品进行检测，回收率介于58.75~136.75%之间，RSD介于0.87~7.69%之间。本法无需前处理，全程自动化运行，对比离线方法，在线方法10 min内完成自动前处理和色谱分离检测，允许强溶剂的大体积进样，灵敏度高、精密度好。

本文探索了在存在复杂双电荷离子干扰时，如何利用岛津ICPMS-2030软件元素间校正（IEC）功能快速实现干扰校正，获得准确的测定结果。实验表明，在存在多个元素的双电荷离子同时对砷存在干扰时，岛津软件自带的元素间校正（IEC）功能可以实现准确的干扰去除，获得满意的测定结果。