本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6010微焦点X射线检查装置对整流二极管的实例观察。针对整流二极管透视，可观察正负极及PN结，并发现有燃烧痕迹，并使用不同颜色渲染。再使用CT扫描整流二极管，能够清晰观察出内部焊接气泡和负极与PN结连接处有裂纹。

采用快速前处理结合快速液相色谱分析，实现了氨基甲酸酯类的快速分析，分析时间可控制在1个半小时以内。

原位分析的重要性不言而喻，可以避免仪器操作或样品处理等过程带来的不确定性。通过岛津AXIS Supra+原位UPS-XPS团簇深度剖析技术对OLED薄膜材料进行了研究，得到了材料的表面组成、功函数、HOMO能带等信息，相关信息可进一步用于材料能带结构等的研究。