本文介绍了台式X射线CT系统XSeeker 8000虽然体积小，但可以从金属制品到树脂制品、电子产品等各种产品的内部结构进行三维无损观察和分析。另外，设定项目也少，拍摄简单，即使是新手也可以轻松使用。

扫描探针显微镜［SPM（AFM）］作为可以在大气中对纳米线进行高分辨率观察的工具，被广泛应用于纳米颗粒和软材料等领域。近年来，兼具特殊宏观结构和微观结构的材料问世，需要同时对两种结构进行观察。但传统的SPM广域观察存在像素数不足的问题，无法在图像放大时进行高精细分析。本文介绍了使用可实现8K高像素观察的SPM-Nanoa，同时兼顾广域观察和高精细分析的案例。

岛津制作所开发了一种可放置在桌面上、操作不需要技能的设备，即台式X射线CT系统XSeeker8000。该系统结构紧凑，配备有高功率X射线发生器和高分辨率X射线检出器，可以捕获高清横截面图像，而且带有全新的“XSeeker”CT软件，可通过简单的操作实现高速扫描和图像重建。岛津分析中心精心推出《XSeeker 8000应用文集》，提供了适合XSeeker 8000设备检测的应用实例，衷心希望能对您的工作有所裨益。