硅砂样品和特定混合溶剂按合适比例混匀，加入合适脱模剂置于铂黄坩埚中，在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片，用X射线荧光光谱法（XRF）测试硅砂主成分SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O、Na2O等元素，实验结果表明，该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应对分析结果的影响，利用有含量梯度的硅石标样建立标准工作曲线，元素曲线线性良好，相关系数都在0.997以上，该分析方法的准确度和分析精度都能够达到国标GB/T 3404-82和GB/T 7143-2010规定要求。

F是易挥发卤族元素，高温熔融法时F容易挥发，为了获得好的分析结果，利用波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）玻璃熔片法测试萤石中的CaF2时，需要选择合适的熔样条件及分析条件。本文研究了萤石熔融制样时熔剂比例、熔样温度等，在保证熔样精度的前提下降低稀释比获得好的灵敏度，优选使用高灵敏度SX-14分光晶体，获得更好的分析精度，采用多个含量梯度萤石标样制作萤石的工作曲线，曲线线性良好，方法精度良好。

试样和特定溶剂按一定比例混匀，放入铂黄坩埚中，在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片，用X射线荧光光谱法（XRF）分析硅微粉中主成分SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、TiO2、MnO、K2O、Na2O等元素，实验结果表明，该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应的影响，提高了硅微粉分析方法的准确度。

稀土是化学元素周期表中镧系(镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥)15个元素和21号元素钪、39号元素钇(共17个元素)的总称。长期以来对于稀土的分析多采用经典化学分析，但是由于元素性质相近，给分离、富集、分析带来了很多困难。本文使用波长色散X射线荧光压片分析方法可以直接分析稀土中各元素，给稀土分析带来了新的方法。

短链氯化石蜡是一种新型污染物，广泛的使用于快速消耗品（如儿童玩具）中。本研究使用岛津GCMS-QP2020 NX气相色谱质谱联用仪，建立了NCI负化学源测定儿童用品中SCCPs的方法。采用多类型标准品，通过氯含量-总响应因子作图，线性拟合相关系数良好(R>0.94)。以3倍信噪比(peak to peak)计算氯含量55.5%SCCPs标准品的检出限，LOD为0.90 µg/mL；对该标准品重复进样6次，峰面积的相对标准偏差在7%以内。该方法前处理简单，仪器分析重现性好、灵敏度高、结果较可靠，可有效应对儿童用品中SCCPs的测定。

黄铁矿表面通常具有厚达几百纳米的贫金层，其金含量远低于XPS的常规检出限（~0.1 at%）且厚度远大于XPS的检测深度（~10 nm），该贫金层的存在导致无法直接采用XPS技术获得其内部富金环带的有效信息。本文以贵州贞丰水银洞金矿样品为例，采用非氧化性酸简单有效地去除了屏蔽XPS信号的贫金层（位于含砷黄铁矿最外层）以及干扰XPS金信号的含镁矿物（如白云石），首次采用XPS获得了“隐形金”的一系列重要定量数据。